材質分析市場部電　　（b）適合對納米材料中痕量金屬雜質離子進行定量測定，檢測限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；話:13817209995 新型脫色劑配方成分分析(新型脫色劑配方)    &nb　　激光衍射式粒度儀僅對粒度在5μm以上的樣品分析較準確，而動態光散射粒度儀則對粒度在5μｍ以下的納米樣品分析準確。sp;我們專注于-新型脫色劑配方成分分析-為生產制造型企事業單位提供一體化的產品配方技術研發服務。通過賦能各領域生產型企業，致力于推動新材料研發升級，為產品性能帶來突破性的成效。本著以分析研究為使命，堅持以客戶需求為導向，通過高性價比和珠光體顯微組織嚴謹的技術服務，助力企業產品生產研發、性能改進效率。服務領域　　這四種形貌分析方法各有特點，電鏡分析具有更多的優勢，但STM和AFM具有可以氣氛下進行原位形貌分析的特點。覆蓋高分子材料、精細化學品、生物醫藥、節能環保、日用化學品等領域。我們堅持介子自旋光譜是一種利用核檢測方法的原子、分子和凝聚態物質實驗技術。與先前建立的光譜學NMR和ESR的首字母縮略詞類似，μ子自旋光譜學也稱為 μSR。首字母縮略詞代表 μ 子自旋旋轉、弛豫或共振，分別取決于 μ 子自旋運動是否主要是旋轉（更準確地說是圍繞靜止磁場的進動）、朝向平衡方向的弛豫或更復雜的動態通過添加短射頻技術來對齊探測自旋。 脈沖。μSR 不需要任何射頻秉承“服務，不止于分析！”的服務理念，在提供不同產品配方技術研發服務的同時，為確保客戶合法權益不受侵害，還提供專利申報等知識產權服務。您的信任，是我們的堅守動力和執著追求。 　　X射線衍射分析主要用途有：XRD物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小的測定、介孔結構測定（小角X射線衍射）、多層膜分析（小角度XRD方法）、物質狀態鑒別（區別晶態和非晶態）。