KSHW-A型紅外薄膜測厚儀

紅外測厚儀是一種非接觸式測厚儀，可廣泛應用于各種透光半透光塑料薄膜、紙張、涂膠層等產品的在線測量監控。

儀器采用精密“口”字型掃描機構連續對被測物進行寬度方向上的左右掃描，主處理器采用工控機，它具有數據處理、掃描測量、任意點定點測量、圖形曲線顯示、偏差報*、數據存儲查詢等功能。

技術參數：

測量范圍：1~400um（可按照要求設定范圍）

分辨率：0.1um

測量精度：1%H±0.3um

掃描寬度：按照客戶要求制定

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