集成電路PCT高壓加速老化試驗箱生產(chǎn)商

集成電路PCT高壓加速老化試驗箱內(nèi)膽水位采用了自動補水的方式，讓的操作加方便輕松。凡是采用了內(nèi)膽水槽式加熱，具有升溫快，在溫度方面分布均勻。箱蓋方式進行些變動，采用了新式雙向翻蓋式，開關(guān)加的自如，加的方便。

集成電路PCT高壓加速老化試驗箱技術(shù)規(guī)格：

溫度范圍：100℃～135℃  

濕度范圍：100R.H  蒸汽飽和型

溫度波動度：≤±0.5℃  

燈管率：40W  

紫外波長：290nm～400nm(訂貨時說明）

模擬凝露：凝露系統(tǒng)時間可調(diào)

紫外光暴露、模擬凝露時間范圍：0～99小時

支持樣板：150×75(mm)

樣板數(shù)量：約40塊

試驗時間：0～9999H可調(diào)

溫度均勻度：≤±2℃

濕度波動度：≤±2

濕度均勻度：≤±2  

黑板溫度：40℃～65℃

燈管間距離：35mm

樣品與燈管距離：50mm

輻照度范圍：≤50w/m2

淸現(xiàn)場并恢工作時間

必要的反時間

集成電路PCT高壓加速老化試驗箱設(shè)計特色：

開機驗時間調(diào)整校準(zhǔn)時間?史換失件時間取備件時間  

故障分析--時間實故陣時間  

等待維修人員時間操作手確認(rèn)故陣時間  

加強模塊設(shè)計,配合合的測試點，或加強自動測能,可以大大地縮短故障--時間。  

注意隔離，以保驗電路、測設(shè)備和測試點發(fā)生故障或短路等現(xiàn)象時，不致壞被測設(shè)備。  

設(shè)計時要盡可能地提髙元器件的可見和可達,便于測,便于尋找和確定故障。  

機內(nèi)沒有測電路時,應(yīng)能使用通用測試設(shè)備測設(shè)備。測試點和測試接口關(guān)系等要明顯標(biāo)出。測試設(shè)備的連接器應(yīng)是通用的，并能迅速裝卸。  

應(yīng)保設(shè)備能帶電測,分系統(tǒng)和組件拉出或插拔后應(yīng)不斷電，或附設(shè)轉(zhuǎn)接電纜，以便能方便測童，判定故障部位。  

集成電路PCT高壓加速老化試驗箱-縮短故障--時間的設(shè)計措施  

    為了便于迅速而準(zhǔn)確地進行故障--,設(shè)備應(yīng)合設(shè)置測試點。當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時，通過測試點被測特的變化可以確定故障部位。例如某通信機和某電視機都設(shè)置了多個測試點，設(shè)備發(fā)生故障后，只要測量各測試點的電壓,可判定故障部位。設(shè)置測試點時，關(guān)鍵測試點好在面板上,其他測試點也要可接近，便于測量。  

設(shè)備內(nèi)設(shè)置故障自動報警系統(tǒng)或裝置。當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時，能借助指示燈、發(fā)光二及管、電表或音響裝置指示出故障部位。數(shù)字電路需有故障自動測能。例如,某--機面板上有多個電表測各工作狀態(tài),不僅能指示故障部位,各T.作狀態(tài)有無變化也都在測之列。  

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