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博曼鍍層膜厚測試儀

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最后更新: 2013-11-17 17:26
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博曼鍍層膜厚測試儀

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 博曼鍍層膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
博曼膜厚測試儀的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件,包括線路板,芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的,目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度.
博曼膜厚測試儀專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析??梢詣偃螠y量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構.
具有強大功能的X-射線 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
博曼膜厚測試儀特點:
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
聯系人:舒翠 136 0256 8074
電話:0755-29371655 
傳真:0755-29371653  
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地址:深圳市寶安沙井北環大道鴻安大廈502 
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