金屬鍍層測厚儀Thick880
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鍍層測厚儀Thick880是實譜科技的核心產品之一，是利用x射線熒光技術解決鍍層厚度分析的檢測儀器。
優勢和特點
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人文字化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果
*有助于識別鍍層成分的創新型功能
*機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的精確結果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書
*用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心
*Thick系列分析儀測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享
*有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用
先進的技術
*獨特的 Peltier 電制冷進口檢測器
*數字脈沖處理 (DPP) 技術
*基本參數 (FP) 無標樣分析方法
*高文字能、多元素分析
功能強大、易于使用的元素分析軟件
無標和半無標分析
基本參數 (FP) 和基于標樣的經驗方法
多層厚度及成分
不限元素、不限數量的標樣
利用自動化操作實現多個激發條件
可應用于
*合金分析
*鍍層厚度分析
*電鍍液金屬離子分析
*磁文字介質和半導體元素分析
*土壤污染元素分析
*過濾器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
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