北京高低溫測試機構--AS實驗室摸底租場測試服務

北京綜所高低溫實驗室，提供高低溫摸底租場服務，第三方測機構，--AS和CMA國認可測機構，出具測報告。提供GBT2423標準高低溫測試報告，高低溫試驗屬于氣候環境試驗中比較通用和普遍的測項目類型之，高低溫氣候環境試驗模擬干熱和干冷大氣環境，如夏天的天熱，冬天的天冷。

高低溫環境試驗測咨詢彭工136-9109-3503

高低溫環境試驗分為高溫工作、低溫工作、低溫貯存、高溫貯存測試類型。

實驗室具備從0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低溫溫度試驗系統，具備獨立的搭接樣品的空間，試驗箱側均具備出線端子，可以引出電源線或信號線進行產品的工作操作試驗。

高低溫測試試驗是用來確認產品在溫濕度氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應。

  高低溫測試試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續時間。

高低溫High and low temperature testing試驗方：

預處：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。

初步測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。

樣品斷電時，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，試驗箱（室）內溫度應至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態下進行低溫測試，這步非常重要，因為芯片本身在通電狀態下會產生20℃因此，在通電狀態下，通常容易通過低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。

在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱（室）內4h或者直到測試樣品達到溫度穩定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內部溫度保持高溫，4小時后執行A、B測試步驟。

進行老化測試，觀察是否存在數據對比錯誤。

高溫和低溫試驗分別重10次。

重上述實驗方，以完成三個循環。根據樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。

恢：試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢，直至試驗樣品達到溫度穩定。

后測：根據標準中的程度等方評估測結果。

實驗室安全按照--AS測范圍基礎標準GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方 試驗 A：低溫》 和 GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方 試驗 B：高溫》標準進行高低溫工作、高低溫貯存、高低溫限、干冷干熱、溫度變化、高溫老化、高溫壽、高低溫耐受試驗技術服務，出具帶有--AS,CMA印章的第三方測報告。

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