材質(zhì)分析市場部電話:13817209995 　　 激光相干光譜粒度分析法：通過光子相關(guān)光譜（PCS）法，可以測量粒子的遷移速率。而液體中的納米顆粒以布朗運(yùn)動為主，其運(yùn)動速度取決于粒徑，溫度和粘度等因素。在恒定的溫度和粘度條件下，通過光子相關(guān)光譜（PCS）法測定顆粒的遷移速率就可以獲得相應(yīng)的顆粒粒度分布金屬切削液配方成分分析(切削液詳細(xì)配方)     我們專注于-金屬切削液配方成分分析-為生產(chǎn)制造型企事業(yè)單位提供一體化的產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)。通過賦能各領(lǐng)域生產(chǎn)型企業(yè)，致力于推動新材料研發(fā)升級，為產(chǎn)品性能帶另一方面，由于金本質(zhì)上不溶于 Sn 或 Pb，當(dāng)使用 SnPb 焊料進(jìn)行焊接時，可能會在引線上產(chǎn)生脆化。如果金層沒有完全溶解到焊料中，那么緩慢的金屬間反應(yīng)可以在固態(tài)下進(jìn)行。金與焊接反應(yīng)，形成易碎的金屬間化合物和優(yōu)先解理面。來突破性的成效。本著以　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優(yōu)點(diǎn)；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數(shù)大于3的所有元素。本低強(qiáng)度低，分析靈敏度高，其檢測限達(dá)到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。分析研究為使命，堅持以客戶需求為導(dǎo)向，通過高性價比和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募技{米結(jié)構(gòu)處理 1 - 100 nm 范圍內(nèi)的物體和結(jié)構(gòu)。[12] 在許多材料中，原子或分子聚集在一起形成納米尺度的物體。這會導(dǎo)致許多有趣的電、磁、光學(xué)和機(jī)械特性。術(shù)服務(wù)，助為了全面了解材料結(jié)構(gòu)及其與特性的關(guān)系，材料科學(xué)家必須研究不同的原子、離子和分子是如何排列和相互結(jié)合的。這涉及量子化學(xué)或量子物理學(xué)的研究和使用。固態(tài)物理學(xué)、固態(tài)化學(xué)和物理化學(xué)也涉及鍵合和結(jié)構(gòu)的研　　XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應(yīng)，對樣品中各組分的存在形態(tài)進(jìn)行分析。測定結(jié)晶情況，晶相，晶體結(jié)構(gòu)及成鍵狀態(tài)等等。 可以確定各種晶態(tài)組分的結(jié)構(gòu)和含量。究。力企業(yè)產(chǎn)品生　　相貌分析的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌，材料的顆粒度，及顆粒度的分布以及形貌微區(qū)的成份和物相結(jié)構(gòu)等方面。產(chǎn)研發(fā)、性能改進(jìn)效率。服務(wù)領(lǐng)域覆蓋高分子材料、精細(xì)化學(xué)品、　　（2） 飛行時間二次離子質(zhì)譜法（Time of Flight Secondary　　XRD物相分析所需樣品量大（0.1g），才能得到比較準(zhǔn)確的結(jié)果，對非晶樣品不能分析。 Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS） 是通過用一次離子激發(fā)樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量的極高分辨率的測量技術(shù)。生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保、日用化學(xué)品等領(lǐng)域。我們堅持秉承“服務(wù)，不止于分析！”的服務(wù)理念，在提供不同產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)的同時，為確保客戶合法權(quán)益不受侵害，還提供　　3、收集經(jīng)過質(zhì)譜分離的二次離子，可以得知樣品表面和本體的元素組成和分布。在分析過程中，質(zhì)量分析器不但可以提供對于每一時刻的新鮮表面的多元素分析數(shù)據(jù)。而且還可以提供表面某一元素分布的二次離子圖像。專利申報等知識產(chǎn)權(quán)服務(wù)。您的信任，是我們的堅守動力和執(zhí)著追求。