材質分析市場部電話:13817209995 　　 激光相干光譜粒度分析法：通過光子相關光譜（PCS）法，可以測量粒子的遷移速率。而液體中的納米顆粒以布朗運動為主，其運動速度取決于粒徑，溫度和粘度等因素。在恒定的溫度和粘度條件下，通過光子相關光譜（PCS）法測定顆粒的遷移速率就可以獲得相應的顆粒粒度分布金屬切削液配方成分分析(切削液詳細配方)     我們專注于-金屬切削液配方成分分析-為生產制造型企事業單位提供一體化的產品配方技術研發服務。通過賦能各領域生產型企業，致力于推動新材料研發升級，為產品性能帶另一方面，由于金本質上不溶于 Sn 或 Pb，當使用 SnPb 焊料進行焊接時，可能會在引線上產生脆化。如果金層沒有完全溶解到焊料中，那么緩慢的金屬間反應可以在固態下進行。金與焊接反應，形成易碎的金屬間化合物和優先解理面。來突破性的成效。本著以　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優點；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。分析研究為使命，堅持以客戶需求為導向，通過高性價比和嚴謹的技納米結構處理 1 - 100 nm 范圍內的物體和結構。[12] 在許多材料中，原子或分子聚集在一起形成納米尺度的物體。這會導致許多有趣的電、磁、光學和機械特性。術服務，助為了全面了解材料結構及其與特性的關系，材料科學家必須研究不同的原子、離子和分子是如何排列和相互結合的。這涉及量子化學或量子物理學的研究和使用。固態物理學、固態化學和物理化學也涉及鍵合和結構的研　　XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組分的存在形態進行分析。測定結晶情況，晶相，晶體結構及成鍵狀態等等。 可以確定各種晶態組分的結構和含量。究。力企業產品生　　相貌分析的主要內容是分析材料的幾何形貌，材料的顆粒度，及顆粒度的分布以及形貌微區的成份和物相結構等方面。產研發、性能改進效率。服務領域覆蓋高分子材料、精細化學品、　　（2） 飛行時間二次離子質譜法（Time of Flight Secondary　　XRD物相分析所需樣品量大（0.1g），才能得到比較準確的結果，對非晶樣品不能分析。 Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS） 是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量的極高分辨率的測量技術。生物醫藥、節能環保、日用化學品等領域。我們堅持秉承“服務，不止于分析！”的服務理念，在提供不同產品配方技術研發服務的同時，為確保客戶合法權益不受侵害，還提供　　3、收集經過質譜分離的二次離子，可以得知樣品表面和本體的元素組成和分布。在分析過程中，質量分析器不但可以提供對于每一時刻的新鮮表面的多元素分析數據。而且還可以提供表面某一元素分布的二次離子圖像。專利申報等知識產權服務。您的信任，是我們的堅守動力和執著追求。