材質分析市場主條目：計算材料科學部電話:13817209995 　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優點；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。氧化性殺菌劑配方成分分析(氧化性殺菌劑和非氧化性殺菌劑的區別)     我們專注于-氧化性殺菌劑配方成分分析-為生產制造型企事業單位提供一體化的產品配方技術研發服務。通過賦能各領域生產型企業，致力于推動新材料研發升級，為產品性能帶來突破性的成效。本著以分析研究為使命，堅持以客戶需求為導向，通過高性價比和嚴謹的技術服務，助力企業產品生產研發、性納米紋理表面在納米尺度上具有一維，即只有物體表面的厚度在 0.1 到 100 nm 之間。能改進效率。服務領域覆蓋高分子材料、精細化學品、生物醫藥、節能環保　　電鏡-能譜分析方法：利用電鏡的電子束與固體微區作用產生的X射線　　表面與微區成分分析進行能譜分析（EDAX）；與電子顯微鏡結合（SEM，TEM），可進行微區成份分析；可進行定性和定量分析。、日用化學品等領域。我們堅持秉承“服務，不止于分析！”的服務理念，在提供不同產品配方技術研該領域本質上是跨學科的　　成分分析分類，材料科學家或工程師必須了解并利用物理學家、化學家和工程師的方法。相反，生命科學和考古學等領域可以激發新材料和新工藝的開發，采用仿生和仿古方法。因此，與這些領域保持著密切的關系。相反，由于領域之間的顯著重疊，許多物理學家、化學家和工程師發現自己從事材料科學工作。發服務的同時，為確保客戶合法權益不受侵害，還提供專利申報等知識產權服務。您的信任，是我們的堅守動力和執著追求。