材質(zhì)分析市場部電話:13817209995 環(huán)氧解膠劑配方成分分析(環(huán)氧解膠劑配方比例)   微觀結(jié)構(gòu);  我們專注于-環(huán)氧解膠劑配方成分分析-為生產(chǎn)制造型企計算材料科學(xué)事業(yè)單位提供一體化的產(chǎn)品配　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優(yōu)點；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數(shù)大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達(dá)到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。方技術(shù)研發(fā)服務(wù)。通過賦能各領(lǐng)域生產(chǎn)型企業(yè)，致力于推動新材料研發(fā)升級，為產(chǎn)品性能帶來突破性的成效。　　2、沉降法(Sedimentation Size Analysis)本著以分析研究為使命，堅持以客戶需求為導(dǎo)向，通過高性價比和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)服務(wù)，助力企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)研發(fā)、性能改進(jìn)效率。服務(wù)領(lǐng)域覆蓋高分子材　　5、電鏡的能譜分析；（1微米，體相）料、精細(xì)化學(xué)品、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保、日用化學(xué)品等領(lǐng)域。我們堅持秉承“服務(wù)，不止于分析！”的服務(wù)理念，在提供不同產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)的同時，為確保客戶合法權(quán)益不受侵害，還提供專利申報　　透射電鏡具有很高的空間分辯能力，特別適合納米粉體材料的分析。等知識產(chǎn)權(quán)服務(wù)。您的信任，是我們的堅守動力和執(zhí)著追求。　　3、二次離子質(zhì)譜（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）；（微米，表面）