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清洗粉配方成分分析(清洗粉配方成分表)
我們專注于-清洗粉配方成分分析-為生產(chǎn)制造型企事業(yè)單位提供一體化的產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)。通過(guò)賦能各領(lǐng) 一般固體材料顆粒大小可以用顆粒粒度概念來(lái)描述。但由于顆粒形狀的復(fù)雜 1、 顯微鏡法(Microscopy):SEM,TEM;1nm~5μm范圍;適合納米材料的粒度大小和形貌分析;性,一般很難直接用一個(gè)尺度來(lái)描述一個(gè)顆粒大小,因此,在粒度大小的描述過(guò)程中廣泛采用等效粒度的概念。域生產(chǎn)型企業(yè),憑借全球?qū)嶒?yàn)室網(wǎng)絡(luò)和 1,000 多名行業(yè)專家,我們可以為世界各地的客戶提供支持,并輕松安排您的樣品運(yùn)輸,以便及時(shí)進(jìn)行測(cè)試和咨詢。致力于推動(dòng)新材料研發(fā)升級(jí),為產(chǎn)品性能帶來(lái)突破性的成效。本著以分析研究為使命,堅(jiān)持以客戶需 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質(zhì)成分的分析,其方法包括原子吸收、原子發(fā)射ICP、質(zhì)譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方法; (e)分析元素范圍廣,70多種; 應(yīng)該是缺點(diǎn)(不確定):難熔性元素,稀土元素和非金屬元素,不能同時(shí)進(jìn)行多元素分析;其中前三種分析方法需要對(duì)樣品進(jìn)行溶解后再進(jìn)行測(cè)定,因此屬于破壞性樣品分析方法;而X射線熒光與衍射分析方法可以直接對(duì)固體樣品進(jìn)行測(cè)定因此又稱為非破壞性元素分析方法 (2)俄歇電子能譜法(Auger electron spectroscopy,AES)。求為導(dǎo)向,通過(guò)高性價(jià)比和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)服務(wù),助力企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)研發(fā)、性能改進(jìn)效率。服務(wù)領(lǐng)域覆蓋高分子 (1) 電感耦合等離子體質(zhì)譜(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用電感耦合等離子體作為離子源的一種元素質(zhì)譜分析方法;該離子源產(chǎn)生的樣品離子經(jīng)質(zhì)譜的質(zhì)量分析器和檢測(cè)器后得到質(zhì)譜;檢出限低(多數(shù)元素檢出限為ppb-ppt級(jí));線性范圍寬(可達(dá)7個(gè)數(shù)量級(jí));分析速度快(1分鐘可獲得70種元素的結(jié)果);譜圖干擾少(原子量相差1可以分離),能進(jìn)行同位素分析。材料、精細(xì)化學(xué)品、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保、日用化學(xué)品等領(lǐng)域。我們堅(jiān)持秉承“服務(wù),不 01止于分析!”的服務(wù) 2、俄歇聚合物電子能譜(Auger electron spectroscopy,AES);(6nm,表面);理念,在提供不同產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)的同時(shí),為確保客戶合法權(quán)益不受侵害,還提供專利申報(bào)等知識(shí)產(chǎn)權(quán)服務(wù)。您的信任,是我們的堅(jiān)守動(dòng)力和執(zhí)著追求。